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高溫電阻率測試儀

該(gai)高溫(wen)電阻(zu)率測試儀是(shi)測量(liang)碳素塊狀材料在高溫(wen)環境下導電性能的儀器。該(gai)儀器由控(kong)溫(wen)系(xi)統(tong)、高溫(wen)爐、和測量(liang)系(xi)統(tong)組成。

產品型號：GDT

更新時(shi)間：2024-06-25

該高溫電阻率測試儀是測量碳(tan)素(su)塊狀(zhuang)材料在高溫(wen)環境下導電性(xing)能的(de)儀器。該儀器由控溫(wen)系統(tong)(tong)、高溫(wen)爐、和測量系統(tong)(tong)組成。

GDT高溫電阻率測試儀高精度穩壓恒流源：

輸入：220V±10%  功耗：≦300VA

輸出：電壓0～24V   電流0～40A 精度(du)0.01

GDT測試容器：

試樣直徑: Φ20～Φ50mm

試樣長(chang)度: 100mm

電壓端子(zi)間距離：可調

試樣尺寸測量：數字顯示卡(ka)尺,0～150mm,精度(du)0.01mm.

電(dian)壓測量：數(shu)顯電(dian)壓表，量程0～199.99MV,       精度0.01MV

GDT控溫系統：

溫度范圍(wei)：室溫～900℃

控溫儀表(biao)：日本(ben)*微電(dian)腦(nao)智能程序控溫儀, SSR固態繼電(dian)器(qi)驅動,熱電(dian)偶自由輸入

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