GDT高溫電阻率儀

該(gai)高溫(wen)電(dian)阻率測(ce)試儀是測(ce)量(liang)，金屬，陶瓷，碳素塊狀材料在高溫(wen)環(huan)境下導電(dian)性能的(de)儀器。該(gai)儀器由控溫(wen)系統、高溫(wen)爐(lu)、和測(ce)量(liang)系統組成。

主要(yao)技術參數：

高(gao)精(jing)度穩壓(ya)恒流(liu)源：

輸入：220V±10%  功耗(hao)：≦300VA

輸出：電(dian)壓0～24V   電(dian)流0～40A 精度0.01

測(ce)試(shi)容器：

1．試(shi)樣直(zhi)徑: Φ20～Φ50mm

2．試(shi)樣長度: 100mm

3．電壓端子間(jian)距離：可調(diao)

4．試樣(yang)尺寸測(ce)量(liang)：數字顯示卡尺,0～150mm,精度0.01mm.

5．電壓測量：數顯電壓表，量程0～199.99MV,精度0.01MV

6．溫度范圍：室溫～600℃

7．控溫儀表：微電腦智能程序控溫儀, SSR固態繼電器驅動,熱電偶自由輸入(ru).

8. 測控方式：連接計算機自動(dong)控制，數據處理，并可生成檢測報告(gao)，配電腦(nao)臺；